偏振控制单元

Santec 的扫描测试系统旨在简化光子测试，提供完整的解决方案，其中高速分析、高分辨率和准确性是关键。将 Santec 的可调谐激光器之一（TSL-775 或 TSL-570）与光功率计 （MPM-220）、偏振控制单元 （PCU-110） 和定制软件相结合，完整的扫描测试系统优化了 WDL 和 PDL 测量，适用于研发和生产环境。该系统使用实时参考，同时从可调谐激光器获取输出功率和通过 DUT 传输的光功率，使用 Mueller 矩阵方法在 WDL 和 PDL 分析中提供高精度。使用过采样和重新缩放算法来最大限度地提高测试吞吐量，同时保持测量完整性。Santec MPM-220 功率计主机可与 4 通道电流计模块 MPM-213 结合使用。扫描测试系统与 MPM-220 和 MPM-213 相结合，适用于使用类似收发器的光电二极管（ROSA/相干接收器等）或光通道监视器测量光纤组件的性能。应用组件和模块的光学特性：- 可调谐滤波器、交织器、光纤布拉格光栅、耦合器、分路器、隔离器、开关等- WSS 和波长阻止器- DWDM 组件硅光子材料表征，包括微腔环形谐振器光谱学干涉配置